T3Ster热阻测试仪进行HPD?槿忍匦圆馐-视频案例

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汽车和消费电子都会用到半导体芯片,但车规级芯片对外部环境要求很高,涉及到的一致性和可靠性均要大于工业级产品要求,这就需要车规级器件必须进行各种热可靠性寿命等等的实验分析。

其中市场上HybridPACK? Drive?橛τ媒衔惴海私庹饫郒ybridPACK? Drive?槿忍匦圆馐院腿瓤煽啃允倜拦乐凉刂匾。

这类型的?樘氐闶墙峁菇舸眨攵曰旌隙暗缍抵髂姹淦饔τ茫▁EV)进行了优化,该芯片组拥有出色的电流密度,并且具备卓越的短路耐用性能以及更高的阻断电压,从而使逆变器在恶劣的环境下仍能可靠工作。

同时这类?榫哂懈叩缙湎逗团赖缇嗬耄虼艘卜浅J屎咸岣呦低彻ぷ鞯缪。此外,灵活的信号引脚和电源选项卡概念允许将来有更多的产品变体,从而支持最佳的?榛姹淦鞣椒。

本视频重点介绍利用MicRED T3Ster设备量测HybridPACK? Drive Module?榈娜忍匦圆馐苑椒ā⒃怼⒌缙酉摺⒘坎獠问馐、数据后处理等。相信大家能够进一步了解T3ster设备量测HybridPACK? Drive Module这类型?榈慕岬搅魈搴徒峁购植愕恼龉。

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